光纖同軸位移傳感器歐姆龍日本OMRON

光纖同軸位移傳感器歐姆龍日本OMRON

 在玻璃輸送高度控制等使用多個傳感器的應用中，安裝時必須對各傳感器進行高精度的角度調整。 
使用同軸共焦點ZW系列時，無需嚴格的角度調整就可進行高精度測量。高精度控制裝置設備時，傳感器探頭產生的熱量一般會對周圍的設備元件產生影響，成為發生誤差的原因之一。由于ZW系列傳感器探頭中沒有發熱源，不會對周圍的機器設備造成影響• NVIDIA® GeForce® 200系列或更高規格 
• ATI RadeonHD5000系列或更高規格
硬盤    1.6GB以上空置容量
顯示器    XGA 1024× 768、1600萬色 GA 1280× 800或更高規格
磁盤裝置    DVD-ROM驅動器。
構成部件數與過去的三角測距相比大幅減少EtherCAT是一種經過化非常適用于設備控制的高速開放網絡。按照過去的三角測距方式，測量鏡面體時，傳感器的安裝角度不同，可能會發生很大的下降。 為了以更高的精度、更有效率地設計利用感測結果控制設備動作的設備控制應用，經過不斷發展。已經開始在歐姆龍的位移傳感器ZW內進行EtherCAT通訊升。，是一種不易發生故障的結構，維修保養次數也大幅減少。另外，由于使用LED光，不必采取激光光源那樣嚴格的安全措施
 因此，利用Eth而CAT與伺服驅動器或編碼器輸入子機相連接，7mm    20mm    30mm    40mm
測量范圍   附件    校準內存固定用螺絲(M2)、使用說明書、使用注意事項利用Eth而CAT與伺服驅動器或編碼器輸入子機相連接，可高速獲得位置坐標和ZW的位移量。由于高度信息與XY位置坐標很容易建立聯動關系，因此在設備控制用途中，可提高與高度相關的加工精度，在檢驗用途中，可在異常部位判定，傾向管理等維修保養方面發揮作用可高速獲得位置坐標和ZW的位移量 ±0.3mm    ±1mm    ±3mm    ±6mm
靜態分辨率 ＊1    0.01μm    0.02μm    0.06μm    0.08μm
線性度 ＊2    ±0.8μm    ±1.2μm    ±4.5μm    ±7.0μm
光點直徑 *3    Near    φ20μm    φ45μm    φ70μm    φ90μm
Center    φ18μm    φ40μm    φ60μm    φ80μm
Far    φ20μm    φ45μm    φ70μm    φ90μm
測量周期    500μs～10ms
適用傳感器控制器    ZW-C1□□□ /-CE1□□
使用環境照度    物體面照度10,000Lx以下：白熾燈
周圍溫度范圍置有Celeron 540 (1.8GHz)或更高規格CPU的Windows電腦 
使用Core i5 M520 (2.4GHz)、同等或更高規格
主存儲器    2GB或以上
使用3D動態跟蹤時的 
視頻存儲器/視頻卡    另外，在需要比鄰安裝多個傳感器探頭的應用中也可放心使用于位移傳感器大多數安裝部位會受到工作部等部位所產生振動的影響，因此不容易損壞也是很重要的。ZW系列傳感器探頭僅由鏡頭和光纖構成，不含電子部件和基板。視頻存儲器：512MB以上 
視頻卡：以下恩和一種視頻卡 
 

光纖同軸位移傳感器歐姆龍日本OMRON
通信接口    支持USB2.0的USB端口或Ethernet端口 ＊3
可支持語言    日語、英語、德語、法語、意大利語、西班牙語、簡體中文、繁體中文、韓語    工作時：0～+50℃、存放時：-15～+60℃ (但是，不得結冰、結露)
周圍濕度范圍    工作時/存放時：35～85%RH (但是，不得結露)
保護結構    IP40(IEC60529)
振動(耐久)    10～150Hz(單向振幅0.35mm) X/Y/Z各方向80分鐘
沖擊(耐久)  了使用一般傳感器進行高精度測量，必須采取相應措施，以避免周圍設備發生的電磁干擾的影響。但在ZW系列傳感器探頭中不存在受干擾影響的電子部件，即使安裝在動力部附近也可進行穩定測量。而且，連接傳感器探頭和控制器的光纖，即使布置在動力線等容易產生干擾的電纜附近，也不受其影響  150m/s2 6方向 各3次(上下、左右、前后)
溫度特性 ＊4    0.6μm/℃    1.5μm/℃    2.8μm/℃    4.8μm/℃
材質    殼體：壓鑄鋁、光纖被服層：PVC、校準內存：電腦
光纖長度    0.3m、2m (耐彎曲電纜)
光纖zui小彎曲半徑    20mm
緣電阻(校準ROM)    外殼與整體端子之間：20ＭΩ(使用250V兆歐表測量時)
耐電壓(校準ROM)    外殼與整個端子之間：AC1,000V、50/60Hz、持續1分鐘
重量    約105g (殼體、光纜合計)
。由于高度信息與XY位置坐標很容易建立聯動關系，因此在設備控制用途中，可提高與高度相關的加工精度，在檢驗用途中，可在異常部位判定，傾向管理等維修保養方面發揮作用即可降低調整夾具的成本、空間，也可縮短調整時間為